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GXF-215B 数显式硅酸根分析仪器 行业专用仪表

GXF-215B 数显式硅酸根分析仪器 行业专用仪表

简要描述:
GXF-215B 数显式硅酸根分析仪器
测量范围0~50.0μg/LsiO2
基本误差≤±2.0μg/L

更新时间:2023-11-12

访问量:332

厂商性质:生产厂家

GXF-215B 数显式硅酸根分析仪器


测量范围0~50.0μg/LsiO2
基本误差≤±2.0μg/L
重复性误差≤±0.2μg/L
短期漂移(30分钟)≤±0.2μg/L
长期漂移(24小时)≤±2.0μg/L
化学方法硅钼兰光度法GB 12150—89

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GXF-215B 数显式硅酸根分析仪器

测量范围0~50.0μg/LsiO2
基本误差≤±2.0μg/L
重复性误差≤±0.2μg/L
短期漂移(30分钟)≤±0.2μg/L
长期漂移(24小时)≤±2.0μg/L
化学方法硅钼兰光度法GB 12150—89

GXF-215B 数显式硅酸根分析仪器


测量范围0~50.0μg/LsiO2
基本误差≤±2.0μg/L
重复性误差≤±0.2μg/L
短期漂移(30分钟)≤±0.2μg/L
长期漂移(24小时)≤±2.0μg/L
化学方法硅钼兰光度法GB 12150—89

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