相关文章
您现在的位置:首页 > 产品展示 > 仪器仪表 > 分析仪器 > GXF-215B 数显式硅酸根分析仪器 行业专用仪表
GXF-215B 数显式硅酸根分析仪器 行业专用仪表

GXF-215B 数显式硅酸根分析仪器 行业专用仪表

简要描述:
GXF-215B 数显式硅酸根分析仪器
测量范围0~50.0μg/LsiO2
基本误差≤±2.0μg/L

更新时间:2023-11-12

访问量:378

厂商性质:生产厂家

GXF-215B 数显式硅酸根分析仪器


测量范围0~50.0μg/LsiO2
基本误差≤±2.0μg/L
重复性误差≤±0.2μg/L
短期漂移(30分钟)≤±0.2μg/L
长期漂移(24小时)≤±2.0μg/L
化学方法硅钼兰光度法GB 12150—89

0


GXF-215B 数显式硅酸根分析仪器

测量范围0~50.0μg/LsiO2
基本误差≤±2.0μg/L
重复性误差≤±0.2μg/L
短期漂移(30分钟)≤±0.2μg/L
长期漂移(24小时)≤±2.0μg/L
化学方法硅钼兰光度法GB 12150—89

GXF-215B 数显式硅酸根分析仪器


测量范围0~50.0μg/LsiO2
基本误差≤±2.0μg/L
重复性误差≤±0.2μg/L
短期漂移(30分钟)≤±0.2μg/L
长期漂移(24小时)≤±2.0μg/L
化学方法硅钼兰光度法GB 12150—89

637963469183338980947.jpg


留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7